Tischpulver X

Overview

Basisinformation.

Modell Nr.	DW-XRD-Y3000
Maßgeschneidert	Nicht kundenspezifisch
Transportpaket	Standardpaket
Warenzeichen	Drawell
Herkunft	China
Produktionskapazität	200 Stück pro Jahr

Produktbeschreibung

DW-XRD-Y3000 Modell eines Röntgenbeugungsinstruments

Produktbeschreibung

Das Diffraktometer der Y3000-Serie ist für die Materialforschung und die Analyse von Industrieprodukten konzipiert. Es ist die perfekte Kombination aus

konventionelle Analyse mit speziellen Messprodukten.
•Die perfekte Kombination aus Hardware- und Softwaresystemen erfüllt die Anforderungen von Akademikern und Forschern in verschiedenen Anwendungsbereichen.

Das hochpräzise Beugungswinkelmesssystem liefert genauere Ergebnisse
Die hohe Stabilität des Röntgengenerator-Steuerungssystems führt zu einer stabileren Wiederholgenauigkeit
Programmierbare Bedienung, integriertes Strukturdesign, einfache Bedienung, elegante Optik.

Röntgenbeugung (XRD) ist ein vielseitiges Testinstrument zur Ermittlung der Kristallstruktur und chemischer Informationen:

Unbekannte Proben in verschiedenen Phasenidentifikationen
Gemischte Proben mit bekannter quantitativer Phasenanalyse
Kristallstrukturanalyse
Kristallstrukturänderungen unter unkonventionellen Bedingungen (Hochtemperatur-, Niedertemperaturbedingungen)

•Analyse des Materialoberflächenfilms
•Analyse der Textur und Spannung von Metallmaterialien
Technikparameter


Nennleistung	3 kW
Röhrenspannung	10–60 kV
Röhrenstrom	5-80mA
Röntgenröhre	Glasrohr, Keramikrohr, Wellenkeramikrohr: Cu, Fe, Co, Cr, Mo usw., Leistung 2 kW
Fokusgröße	1 x 10 mm oder 0,4 x 14 mm oder 2 x 12 mm
Stabilität	≤0,01 %
Goniometer-Struktur	Horizontal (θ-2 θ)
Beugungsradius	185mm
Scanreichweite	0-164
Scangeschwindigkeit	0,0012° - 70° min
Max. Drehzahl	100° /min
Mode scannen	θ-2θ-Verknüpfung, θ,2θ-Einzelwirkung; Kontinuierliches oder schrittweises Scannen
Wiederholgenauigkeit des Winkels	1/1000°
Minimaler Schrittwinkel	1/1000°
Detektor	Proportionalzähler (PC) oder Szintillationszähler (SC)
Zählrate der Linearität	5 x 105 CPS (mit der Kompensationsfunktion der Drop-Out-Zählung)
Energieauflösungsverhältnis	≤25 % (PC),≤50 % (SC)
Mode zählen	Differentialkoeffizient oder Integral, PHA automatisch, Totzeitregelung
Stabilität des Systemmaßes	≤0,01 %
Streustrahlendosis	≤1 μ Sv/h (ohne Röntgenschutzeinrichtung)
Integrative Stabilität des Instruments	≤0,5 %
Figurengröße	1100 x 850 x 1750 mm

Detaillierte Fotos

$Benchtop Powder X-ray Diffraction Xrd Instrument Lab Instrument Xrd Analyzer Spectrometer$

Produkte

Basisinformation.

Produktbeschreibung